Lyon, P., y P. Kittl. «Aplicación De La microscopía electrónica De Barrido Al Estudio Del Cemento». Revista IDIEM, vol. 12, n.º 2, enero de 2016, pp. Pág. 98-102, https://revistaderechopublico.uchile.cl/index.php/RIDIEM/article/view/38633.